Yuqori-hozirgi mis shinalar va tijoriy energiyani saqlash uchun kontaktli yechimlar (BESS)
Sep 27, 2026
Xabar QOLDIRISH
Tijorat va sanoat BESS uchun DC shina tizimi oss, harorat ko'tarilishi, dielektrik tozalash va mexanik kuchlanishni nazorat qilishda yuqori uzluksiz oqimga ega bo'lishi kerak. C1100 yuqori-tozalikdagi mis yuqori elektr o'tkazuvchanligini ta'minlaydi; kumush{3}}qoplangan kontaktli yuzalar interfeys qarshiligini pasaytiradi, laminatlangan izolyatsiya va boshqariladigan egilish geometriyasi esa 1000V+ DC ilovalarini qo‘llab-quvvatlaydi.
Elektr aloqa tizimi oddiy mis chiziq emas. Ishlab chiqarishga tayyor BESS yigʻma-, PCS va batareya arxitekturasining elektr va issiqlik chegaralarida qolishi uchun material tanlash, shtamplash bardoshliligi, boʻgʻinlarga qarshilik, payvandlash sifati, izolyatsiya yaxlitligi, oʻlchamlarni tekshirish va kuzatilishi mumkin boʻlgan sifat nazoratini talab qiladi.

1000V+ DC BESS oqim yo'llari boshqariladigan qarshilik va issiqlikni talab qiladi
Tijorat energiya saqlash tizimlarida odatda akkumulyator tokchalari, doimiy tok kombayn birliklari, shahar kontaktorlari, sigortalar, -oldindan zaryadlash davrlari, shaxsiy kompyuter interfeyslari va yuqori-oqim tarqatish yo‘llari mavjud. Har bir ulanish elektr qarshiligini keltirib chiqaradi.
Shuning uchun BESS elektr aloqa qismini faqat nominal mis qalinligi asosida baholash mumkin emas. Butun joriy yo'lni, shu jumladan shina materialini, aloqa interfeysini, qoplamani, qo'shma usulini, murvat interfeysini, payvandlash zonasini va issiqlik tarqalishini hisobga olishingiz kerak.
IEC 61439 va IEC 60664 ilovalari uchun 1000A oqim yoʻlini loyihalash parametrlari
C1100 mis: odatda yuqori elektr o'tkazuvchanligi talab qilinadigan joylarda tanlanadi; o'tkazuvchanlik moddiy holatga qarab 100% IACS ga yaqinlashishi mumkin.
Kumush{0}}qoplangan interfeyslar: kontakt qarshiligini kamaytirish va elektr interfeyslarida oksidlanishga qarshilikni yaxshilash uchun ishlatiladi.
Laminatsiyalangan shina izolyatsiyasi: fazadan{0}}fazaga-va fazadan-tuproqqa{3}}dielektrik ajratishni boshqaradi.
CMM o'lchovli tekshiruvi: teshik holatini, egilish geometriyasini va muhim toleranslarni tekshiradi.
IEC 60664 izolyatsiyani muvofiqlashtirish: tozalash va o'tishni baholash uchun asosni taqdim etadi.
IEC 61439 agregatlari: shina tizimlari past kuchlanishli quvvat yig'malariga-birlashtirilganda tegishli.
C1100 mis va C2680 guruch yuqori-joriy energiya saqlash ulanishlari uchun
| Parametr | C1100 Sof mis | C2680 Guruch |
| Oddiy elektr roli | Asosiy joriy yo'l | Mexanik/elektr komponentlar |
| O'tkazuvchanlik | ~100% gacha IACS | Sof misdan sezilarli darajada past |
| Elektr qarshiligi | Past | Yuqori |
| Joriy{0}}tashish ilovasi | Shinalar, terminallar, ulagichlar | Terminallar, qavslar, muhrlangan apparatlar |
| Shakllanuvchanlik | Yaxshi | Juda yaxshi |
| Issiqlik o'tkazuvchanligi | Yuqori | Pastroq |
| Odatda BESSdan foydalanish | Yuqori{0}}joriy DC taqsimoti | Strukturaviy/kontakt komponentlari |
Yuqori{0}}oqimli energiyani saqlaydigan mis shinasi uchun odatda C1100 konstruksiya cheklovlarida elektr qarshiligi va issiqlik koʻtarilishi ustunlik qilganda afzallik beriladi. C2680 mustahkamlik, aşınma qarshilik yoki mexanik geometriya ko'proq ta'sir ko'rsatsa, mos bo'lishi mumkin.
Kumush{0}}Qoplangan C1100 interfeyslari 1000A+ doimiy kuchlanish ostida kontakt qarshiligini nazorat qiladi
Mis asosiy oqim yo'lini ta'minlaydi, ammo ikkita Supero'tkazuvchilar komponentlar orasidagi interfeys mahalliy termal darboğazga aylanishi mumkin.
Oksidlanish, kontakt bosimining etarli emasligi, sirt ifloslanishi, yomon tekislik va mos kelmaydigan qoplama qalinligi kontakt qarshiligini oshirishi mumkin. Yuqori oqim ostida.
3–12 mkm kumush-IEC 60269 va DC kontakt ilovalari uchun qoplama nazorati
BESS elektr aloqa qismlari uchun sirtni tozalash quyidagilarni o'z ichiga olishi mumkin:
Kumush qoplama: odatda yuqori{0}}oqimli elektr kontaktli interfeyslarda ishlatiladi.
Nikel taglik qatlami: material to'plamiga qarab diffuziya to'sig'i sifatida ishlatilishi mumkin.
3-12 mkm qoplama diapazoni: elektr, mexanik va ekologik talablarga muvofiq tanlangan.
Qoplama{0}}qalinligini tekshirish: tegishli qoplama{1}}qalinligini oʻlchash uskunasi yordamida amalga oshiriladi.
Kontakt-qarshilik sinovi: faqat material o‘tkazuvchanligiga tayanmasdan, tugallangan interfeysni baholaydi.
Vizual va mikroskopik tekshirish: qoplamaning uzilishlari, kuyishlar, qobiqlar, yoriqlar yoki ochiq substratni aniqlaydi.
To'g'ri qoplama spetsifikatsiyasi universal qalinlikni ishlatishdan ko'ra joriy zichlik, aloqa kuchi, juftlashish davrlari, atrof-muhitga ta'sir qilish va talab qilinadigan xizmat muddati asosida o'rnatilishi kerak.
In-Die Perchin va Resistance Silver Brazing for BESS Contact Assemblies
| Qo'shilish usuli | Asosiy afzallik | Asosiy jarayon xavfi | Oddiy dastur |
| Perchinlash-da | Yuqori takroriylik va qisqa aylanish vaqti | Perchin balandligi va qisqichning mustahkamligi | Aloqa yig'inlari |
| Qarshilik kumush bilan payvandlash | Supero'tkazuvchilar metallurgiya birikmasi | Issiqlik kiritish va lehimlash{0}}qatlamini boshqarish | Mis/kontakt birikmalari |
| Lazerli payvandlash | Mahalliylashtirilgan issiqlik kiritish | Reflektivlik va payvand chokining kirib borishi | Cu-Cu yoki Cu-Al tuzilmalari |
| Boltli ulanish | Xizmatga yaroqli birikma | Momentning yengilligi va interfeys qarshiligi | Shina o'rnatish |
Qayta takrorlanadigan kontakt geometriyasini talab qiladigan ishlab chiqarish hajmlari uchun,-parchinlash qolipida komponentlarni shakllantirish va birlashtirishni boshqariladigan shtamplash ketma-ketligiga birlashtiradi. Doimiy Supero'tkazuvchilar bo'g'inlar uchun qarshilik kumush lehimleme, bo'g'inlar bo'shlig'i, harorat, plomba taqsimoti va sirt holati nazorat qilinganda metallurgiya aloqasini ta'minlashi mumkin.
Bepul DFM baholash va taklifni so'rang

1000V+ DC izolyatsiyasi va boshqariladigan indüktans uchun laminatlangan shinalar
An'anaviy yalang'och mis novda joriy quvvatni ta'minlaydi, lekin izolyatsiyani, elektromagnit birikmani yoki o'rnatish geometriyasini tabiatan hal qilmaydi.
Laminatsiyalangan shina o'tkazuvchan qatlamlarni izolyatsion dielektrik tizim bilan birlashtiradi. Yuqori{1}}chastotali kommutatsiya muhitlarida oʻtkazgich halqa maydonini qisqartirish ham parazitar induktivlikni kamaytirishi mumkin.
Tez{0}}oʻzgaruvchan PCS arxitekturalari uchun ixcham laminatlangan struktura pastroq induktivlikni qoʻllab-quvvatlaydi. Quvvat talab qiladigan{2}}elektronika dizaynlarida muhandislik maqsadlariga erishish mumkin<10 nH stray inductance, but the actual value depends on conductor spacing, geometry, length, dielectric structure, and measurement method.
IEC 60664 va UL 94 V-0 bo'yicha 1000V+ DC laminatlangan shina dizayni
Asosiy dizayn o'zgaruvchilari quyidagilarni o'z ichiga oladi:
Supero'tkazuvchilar qalinligi: doimiy oqim, eng yuqori oqim, harorat ko'tarilishi va ruxsat etilgan kuchlanish pasayishi bilan aniqlanadi.
Izolyatsiya qalinligi: ish kuchlanishi, dielektrik quvvati, oqish, tozalash va atrof-muhit sharoitlariga qarab tanlanadi.
Dielektrik quvvat: ba'zi muhandislik izolyatsiyalash tizimlari material darajasi va sinov usuliga qarab 15 kV / mm dan oshishi mumkin.
UL 94 V-0: olovga chidamli polimerning ishlashi belgilangan hollarda qo'llaniladi.
Chiqib ketish masofasi: ifloslanish darajasi, materiallar guruhi, ish kuchlanishi va o'rnatish muhitiga ta'sir qiladi.
Bükme radiusi: misning yorilishi, izolyatsiyasining shikastlanishi va qoldiq mexanik kuchlanishning oldini olish kerak.
Epoksi kukunli qoplama va issiqlik{1}}1000V+ DC shinalar uchun qisqaruvchi izolyatsiya
| Parametr | Epoksi kukunli qoplama | Issiqlik{0}}Kichik trubka |
| Izolyatsiya qoplamasi | Konformal qoplama | Quvursimon |
| Murakkab geometriya | Qoplash jarayoni nazorat qilinganda yaxshi | Quvur geometriyasi bilan cheklangan |
| Chet qoplamasi | Jarayonga bog'liq | Mahalliy geometriya cheklovlarini qoldirishi mumkin |
| Mexanik himoya | Yuqori | Oʻrtacha |
| Qalinligini nazorat qilish | Qoplama jarayoni bilan boshqariladi | Quvurlar spetsifikatsiyasi bilan belgilanadi |
| Yuqori ovoz-avtomatlashtirish | Mos | Mos |
| UL 94 V-0 varianti | Belgilangan materiallar uchun mavjud | Belgilangan materiallar uchun mavjud |
| Ilova | Laminatsiyalangan / egilgan shinalar va shakllangan qismlar | To'g'ri yoki o'rtacha murakkab o'tkazgichlar |
Shakllangan BESS shinalari uchun qoplama qalinligi teshiklar, burchaklar, burmalar va terminal interfeyslari atrofida nazorat qilinishi kerak. Haddan tashqari qoplama yig'ish bardoshliklariga xalaqit berishi mumkin, qoplamaning etarli emasligi esa dielektrik chegarani kamaytirishi mumkin.

IATF 16949 va PPAP 3-darajali nazorati ostida nozik mis shtamplash
BESS mis shinasining elektr ishlashi ko'p jihatdan o'lchovli mustahkamlikka bog'liq.
Noto'g'ri teshik holatiga ega bo'lgan shtamplash komponenti montaj stressini keltirib chiqarishi mumkin. Haddan tashqari burg'u balandligi izolyatsiyaga zarar etkazishi yoki elektr tokini tozalash xavfini keltirib chiqarishi mumkin. Bükme og'ishi shinani korpusga yoki qo'shni o'tkazgichga siljitishi mumkin.
±0,01 mm CMM va progressiv shtamplash bilan o'lchamli nazorat
Nazorat ostidagi shtamplash jarayoni quyidagilarni hal qilishi kerak:
±0,01 mm kritik o'lchamli bardoshlik, chizma va ishlov berish qobiliyati talab qilingan hollarda.
Progressiv shtamplash: bo'shatish, pirsing, shakllantirish, bükme va boshqa operatsiyalarni birlashtiradi.
Asbobning aşınmasını nazorat qilish: uzoq ishlab chiqarish jarayonida progressiv o'lchamdagi siljishni oldini oladi.
Burr{0}}balandlik nazorati: montaj va izolyatsiyaga zarar yetkazish xavfini kamaytiradi.
CMM tekshiruvi: SAPR/chizma maʼlumotlariga nisbatan uch oʻlchovli geometriyani-tekshiradi.
SPC monitoringi: mos kelmaydigan partiyalar to'planishidan oldin jarayonning siljishini aniqlaydi.
PPAP 3-darajasi: o'lchov, material, jarayon va qobiliyat hujjatlari bilan mijozning ma'qullanishini qo'llab-quvvatlaydi.
BESS elektr ulanishlariga ta'sir qiluvchi mis shtamplash va bükme nuqsonlari
| Kamchilik | Oddiy sabab | Muhandislik effekti | Nazorat usuli |
| Haddan tashqari burma | Asbobning aşınması yoki noto'g'ri bo'sh joy | Izolyatsiyaning shikastlanishi | Die parvarishlash + tekshirish |
| Teshik{0}}joylashuvining og'ishi | Noto'g'ri joylashish | Assambleyaga aralashuv | CMM + SPC |
| Misning yorilishi | Haddan tashqari shakllantiruvchi kuchlanish | Elektr/mexanik nosozlik | Bend{0}}radiusni optimallashtirish |
| Springback | Materialning holati va asboblar | Terminalni noto'g'ri joylashtirish | O'limda kompensatsiya |
| Yuzaki tirnalishlar | Materiallarga ishlov berish | Qoplama/qoplama nuqsonlari | Himoya bilan ishlov berish |
| Warpage | Stressning notekis shakllanishi | Yomon montaj aloqasi | Yassilikni tekshirish |
Avtomobil va energiyani saqlash{0}}tarmoqlari uchun jarayonni tasdiqlash birinchi maqola-namunasida toʻxtamasligi kerak. Nazorat rejasi chizma xarakteristikalarini asbob-uskunalar, tekshirish chastotasi, reaktsiya rejalari va kuzatilishi bilan bog'lashi kerak.
Busbar dizayn spetsifikatsiyasini yuklab oling
Lazerli payvandlash Cu-Al va molekulyar diffuziyali payvandlash-past qarshilikli birikmalar uchun
BESS joriy yo'llari og'irligi, narxi va tizim arxitekturasi talablari tufayli mis va alyuminiyni tobora ko'proq birlashtiradi. Bir-biriga o'xshamaydigan metallarni birlashtirish qo'shimcha metallurgiya cheklovlarini keltirib chiqaradi.
Mis yuqori issiqlik o'tkazuvchanligiga va umumiy lazer to'lqin uzunliklarida yuqori aks ettirishga ega. Alyuminiyning erish nuqtasi, issiqlik o'tkazuvchanligi va issiqlik kengayish koeffitsienti boshqacha. Haddan tashqari issiqlik kiritish intermetalik birikmalar yoki o'tish zonasida nuqsonlarni keltirib chiqarishi mumkin.
Lazerli payvandlash Cu-Al nazorat ostida issiqlik kiritish va metallografik tekshirish
Ishlab chiqarish payvandlash oynasi quyidagilarni nazorat qilishi kerak:
Lazer kuchi
Payvandlash tezligi
Nur diametri
Fokus holati
Himoya qiluvchi gaz
Qo'shma bo'shliq
Yuzaki holati
Misni{0}}alyuminiyga-qoplaydi
Payvand chokining kirib borishi
Issiqlik{0}}ta'sir zonasi
Intermetall qatlam shakllanishi
Maqsad shunchaki payvand chokining vizual ko'rinishi emas. Koʻndalang{1}}kesim metallografiyasi penetratsiya, termoyadroviy profil, gʻovaklik, yorilish va Cu-Al interfeysining holatini tekshirishi kerak.
Cu-Al lazerli payvandlash va molekulyar diffuziyali payvandlash
| Parametr | Lazerli payvandlash Cu-Al | Molekulyar diffuziyali payvandlash |
| Issiqlik kiritish | Mahalliylashtirilgan | Boshqariladigan bosim/termik jarayon |
| Qo'shma geometriya | Moslashuvchan | Tegishli aloqa yuzalarini talab qiladi |
| Ishlab chiqarish tezligi | Yuqori salohiyat | Jarayonga bog'liq |
| Oʻxshash{0}}metall boshqaruv | Qattiq issiqlik kiritish oynasini- talab qiladi | Kuchli interfeys nazorati |
| Metallurgiya nazorati | Kesma -kerak | Interfeys tekshiruvi talab qilinadi |
| Oddiy foydalanish | Batareya/terminal tuzilmalari | Yuqori{0}}ishonchli o'tkazuvchan o'tishlar |
Yuqori -oqimli doimiy to'lqinlar yig'ishlari uchun qo'shma qarshilik tugallangan komponentda o'lchanishi kerak. Vizual ravishda qabul qilinadigan payvand elektr ishlashining etarli dalili emas.
BESS Elektr aloqa qismlari batareya tokchalarini, DC kontaktorlarini va shaxsiy kompyuterlarni ulaydi
Tijorat energiya saqlash tizimi bir nechta elektr va mexanik jihatdan turli xil ulanish nuqtalarini o'z ichiga oladi.
Oddiy tarkibiy qismlarga quyidagilar kiradi:
Energiyani saqlash uchun mis shina: akkumulyator modullari, tokchalar, kontaktorlar, sigortalar va shaxsiy kompyuterlar o'rtasida yuqori shaharni taqsimlaydi.
Laminatsiyalangan shina: ixcham strukturada oqim o'tkazuvchanligi va boshqariladigan izolyatsiyani birlashtiradi.
DC kontaktor komponentining energiyani saqlash: o'tkazgich terminallari, mis tashuvchilar, magnit / strukturaviy komponentlar va kontakt birikmalarini o'z ichiga oladi.
Moslashuvchan mis konnektor: oʻrnatish tolerantligi va tebranish{0}}boʻlgan joy almashishni oʻzlashtiradi.
Nozik mis shtamplash qismi: terminallar, qavslar, o'tkazuvchan aloqalar va strukturaviy elektr komponentlar bilan ta'minlaydi.
Kumush kontaktli birikma: kommutatsiya qurilmalaridagi elektr interfeysini boshqaradi.
Muhandislik spetsifikatsiyasi butun tizimga bitta umumiy mis shina spetsifikatsiyasini qo'llash o'rniga har bir komponentning elektr rolini belgilashi kerak.
IEC 60664 va IATF 16949 bo'yicha BESS elektr ulanish matritsasi
| Tizim pozitsiyasi | Birlamchi talab | Oddiy material/jarayon |
| Batareya modulining o'zaro ulanishi | Kam qarshilik + ixcham geometriya | C1100 shtamplash/bukish |
| Rack DC avtobus | Yuqori oqim + issiqlik nazorati | C1100 mis shina |
| DC kontaktor terminali | Past interfeys qarshiligi | Mis + kumush qoplama |
| PCS DC kirish | Joriy quvvat + izolyatsiya | Laminatsiyalangan shina |
| Sug'urta ulanishi | Kam qarshilik + mexanik ushlab turish | Shtamplangan mis/guruch |
| Moslashuvchan ulanish | Vibratsiyani yutish | Laminatsiyalangan/moslashuvchan mis |
| Kabinet taqsimoti | Elektr oralig'i + mexanik qattiqlik | Shakllangan/izolyatsiya qilingan shina |
BESS yetkazib beruvchi sifat nazorati: CMM, qarshilik, dielektrik va portlash sinovlari
Energiyani saqlash{0}}komponentlari yetkazib beruvchisi uchun o‘lchamlarni tekshirish va materiallarni sertifikatlash sifat tizimining faqat bir qismidir.
Ishlab chiqarishni nazorat qilish rejasi kiruvchi material, shtamplash, payvandlash, qoplama, izolyatsiya, yig'ish va yakuniy sinovni bog'lashi kerak.
IATF 16949 va ISO 14001 ishlab chiqarishni boshqarish punktlari
IATF 16949: avtomobillar bilan bog'liq ishlab chiqarish muhitlari uchun jarayon sifatini boshqarish.
ISO 9001: sifat menejmenti va hujjatlashtirilgan jarayon nazorati.
ISO 14001: atrof-muhitni boshqarish tizimiga qo'yiladigan talablar.
CMM tekshiruvi: uch o'lchovli-o'lchovli tekshirish.
Qoplama{0}}qalinligi sinovi: belgilangan sirt{1}}davolash qalinligini tasdiqlaydi.
Kontakt{0}}qarshilik sinovi: elektr interfeysi ish faoliyatini tekshiradi.
Dielektrik chidamlilik sinovi: izolyatsiyaning yaxlitligini baholaydi.
Izolyatsiyaga chidamlilik sinovi: oqish yo'llarini aniqlaydi.
Portlash bosimi sinovi: belgilangan hollarda, bosim-batareyani yoki sovutish bilan bog'liq{1}}bardoshli tuzilmalar uchun qo'llaniladi.
PPAP 3-darajasi: ishlab chiqarishning tarkibiy qismini-tasdiqlash hujjatlarini taqdim etadi.
Odatda BESS komponentlarini tekshirish ketma-ketligi
Materialni tekshirish → Shtamplash tekshiruvi → Payvandlash tekshiruvi → Qoplama tekshiruvi → Izolyatsiya tekshiruvi → O'lchovli CMM → Elektr qarshiligi testi → Dielektrik sinov → Yakuniy yig'ish tekshiruvi → PPAP hujjatlari
Ketma-ketlik haqiqiy komponentga va mijozning chizilgan rasmiga moslashtirilishi kerak. Har bir shina har bir sinovni talab qilmaydi.

Energiyani saqlash uchun mis shina OEM ishlab chiqarish uchun muhandislik spetsifikatsiyasi nazorat ro'yxati
Asboblarni tayyorlashni boshlashdan oldin, mijozning chizmasi elektr, issiqlik, mexanik va izolyatsiya ko'rsatkichlariga bevosita ta'sir qiluvchi parametrlarni aniqlashi kerak.
IEC 60664 va PPAP 3-darajali ko'rib chiqish uchun chizma ma'lumotlari talab qilinadi
Material: C1100, C10200, C2680, alyuminiy qotishmasi yoki-mijoz tomonidan belgilangan nav.
Mis o'tkazuvchanligi: maqsadli qiymat yoki IACS talabi.
Qalinligi: nominal material qalinligi va bardoshlik.
Qoplama: kumush, nikel, qalay yoki boshqa sirt bilan ishlov berish.
Qoplama qalinligi: belgilangan diapazon va o'lchash usuli.
Kritik o'lchamlar: agar mavjud bo'lsa, ± 0,01 mm kabi bardoshlik.
Bükme burchagi: bardoshlik va ma'lumotlar bazasi.
Teshik diametri: bardoshlik va pozitsion bardoshlik.
Yassilik: maksimal ruxsat etilgan og'ish.
Burr balandligi: ruxsat etilgan maksimal qiymat.
Izolyatsiya: material, qalinligi, dielektrik talabi va olov darajasi.
Ish kuchlanishi: doimiy va vaqtinchalik sharoitlarni o'z ichiga oladi.
Sinov kuchlanishi: dielektrik qarshilik talabi.
Kontakt qarshiligi: agar mavjud bo'lsa, ruxsat etilgan maksimal qiymat.
Payvandlash talablari: penetratsiya, qo'shma geometriya va metallografik qabul qilish mezonlari.
Qadoqlash: sirtni himoya qilish va{0}}oksidlanishga qarshi talablar.
Kuzatilish: lot, material, asbob-uskunalar, jarayon va tekshirish yozuvlari.
Aniq muhandislik chizmasi DFM, asboblarni loyihalash, namunani tasdiqlash va ommaviy ishlab chiqarish paytida talqinni kamaytiradi.
Prototipdan ommaviy ishlab chiqarishgacha: asboblar, T1 namunalari va PPAP 3-darajali
Aniq mis komponentini ishlab chiqarish yo'nalishi odatda muhandislik tekshiruvi, DFM, asboblar, T1 namunalarini olish, o'lchamlarni tuzatish, jarayonni tekshirish va PPAP orqali amalga oshiriladi.
T1 namunasi va PPAP 3-darajali ishlab chiqarish oqimi
Chizma tekshiruvi - elektr, mexanik, material, bardoshlik va tekshirish talablari aniqlangan.
DFM tahlili - shtamplash yoʻnalishi, egilish ketma-ketligi, materialdan foydalanish, burma yoʻnalishi va asbob tuzilishi koʻrib chiqiladi.
Progressiv qolip dizayni - shakllantirish stantsiyalari kerakli geometriyaga muvofiq joylashtirilgan.
T1 namunasi - boshlang'ich qismlari o'lchovli va funktsional baholash uchun ishlab chiqariladi.
Asbobni tuzatish - orqaga qaytish va o'lchamdagi og'ishlar kompensatsiya qilinadi.
Jarayonni tekshirish - shtamplash, payvandlash, qoplama va izolyatsiyalash parametrlari qulflangan.
Imkoniyatlarni tekshirishning - muhim oʻlchamlari SPC/CMM yordamida nazorat qilinadi.
PPAP 3-darajali taqdimoti - hujjatlari mijozning ishlab chiqarishni tasdiqlashini qo‘llab-quvvatlaydi.
Ommaviy ishlab chiqarish - tasdiqlangan parametrlar boshqariladigan ishlab chiqarish shartlariga aylanadi.
Yuqori hajmli mis shtamplash uchun asbobning ishlash muddati qo'llab-quvvatlanmaydigan universal sikl raqamidan foydalanish o'rniga haqiqiy material qalinligi, qotishma qattiqligi, urish tezligi, kesish klirensi, shakllanish yuki, moylash va texnik xizmat ko'rsatish ma'lumotlari orqali belgilanishi kerak.
Tijorat BESS joriy ulanishlar uchun muhandislik tanlash matritsasi
To'g'ri oqim-ulanish arxitekturasi oqim, kuchlanish, mavjud o'rnatish maydoni, issiqlik chegaralari, almashtirish chastotasi, izolyatsiya talablari va yig'ish usuliga bog'liq.
IEC 60664 va UL 94 V-0 boʻyicha 500A–1000A+ BESS shinasini tanlash
| Dizayn talabi | Tavsiya etilgan yoʻnalish | Asosiy muhandislik tekshiruvi |
| Yuqori doimiy DC | C1100 mis shina | Haroratning ko'tarilishi + kuchlanishning pasayishi |
| Kompakt PCS ulanishi | Laminatsiyalangan shina | Endüktans + izolyatsiya |
| Yuqori{0}}joriy almashtirish interfeysi | Kumush{0}}qoplangan mis/kontaktli yig'ma | Kontaktga qarshilik |
| Cu-Al o'tish | Lazerli payvandlash yoki diffuzion birlashma | Metallografik interfeys |
| Murakkab 3D geometriya | Nozik shtamplash + shakllantirish | Springback + CMM |
| Yuqori dielektrik talab | Epoksi izolyatsiya tizimi | Dielektrik qarshilik |
| Yuqori -hajmli ishlab chiqarish | Progressiv shtamplash | Asbobning ishlash muddati + SPC |
| Avtomobil{0}}bahosini tasdiqlash | IATF 16949 jarayoni | PPAP darajasi 3 |
To'liq BESS elektr aloqasi tizimi uchun materialning o'tkazuvchanligi, qo'shma qarshiligi, izolyatsiyalash ishlashi, mexanik bardoshlik va issiqlik harakati birgalikda baholanishi kerak.
Malakali BESS mis shina ishlab chiqaruvchisi nimani ta'minlashi kerak
Ishlab chiqarish yetkazib beruvchisi muhandislik spetsifikatsiyasini o'lchanadigan ishlab chiqarish boshqaruviga ulash imkoniyatiga ega bo'lishi kerak.
IATF 16949 va PPAP 3-darajali yetkazib beruvchi yetkazib berish
Mis va qotishma substratlar uchun material sertifikatlari
Qoplama spetsifikatsiyasi va qalinligi yozuvlari
Progressiv matritsa va asboblar DFM fikr-mulohazasi
T1 o'lchovli hisobot namunasi
CMM tekshiruvi ma'lumotlari
Payvandlash jarayonining parametrlari
Kerakli joylarda kesma yoki metallografik hisobotlarni-payvandlang
Kontakt-qarshilik sinovi ma'lumotlari
Dielektrik qarshilik sinovi yozuvlari
Izolyatsiyaga{0}}qarshilik natijalari
Kritik xususiyatlar uchun SPC va qobiliyat yozuvlari
PPAP 3-darajali hujjatlari
Ishlab chiqarishning kuzatilishi
Mos kelmaydigan qismlarni tuzatish{0}}yozuvlari
Apollo Electronic Components (Xiamen) Co., Ltd. uchun ishlab chiqarish doirasi nozik metall shtamplash, mis komponentlar, elektr kontaktli birikmalar, payvandlash, sirtni tozalash va yuqori{2}}kuchlanishli/yangi-energiyali elektr aloqasi ilovalarini qamrab olishi mumkin. Bu shina va ulangan kontakt komponentlarini izolyatsiyalangan shtamplangan qismlar sifatida emas, balki bitta joriy{5}}yo'l tizimi sifatida ko'rib chiqish imkonini beradi.
TSS
BESS mis shinasi uchun PPAP 3-darajali tasdiqlash qancha vaqt oladi?
Vaqt jadvali asboblarning murakkabligiga, T1 namunasi natijalariga, mijozlar hujjatlari talablariga va tekshirish sinovlariga bog'liq. Odatdagi loyiha DFM, asboblar, T1 namunasi, o'lchamlarni to'g'rilash, jarayonni tekshirish va PPAPni topshirish orqali davom etadi.
1000A+ uchun qanday mis material mos keladienergiya saqlash mis shinalari?
C1100 yuqori{1}}tozalikdagi mis odatda yuqori elektr oʻtkazuvchanligi va issiqlik oʻtkazuvchanligi tufayli yuqori{2}}oqimli shinalar uchun tanlanadi. Yakuniy tanlov oqim, harorat ko'tarilishi, geometriya, mexanik talablar va sirtni tozalashga bog'liq.
BESS elektr kontakt qismlarida kumush{0}}qoplama qalinligi qanday tekshiriladi?
Kumush{0}}qoplama qalinligi tegishli qoplama-qalinligini o'lchash usuli yordamida tekshiriladi va belgilangan diapazon bo'yicha qayd etiladi. Kontakt-qarshilik sinovi toʻldirilgan elektr interfeysini qoʻshimcha tekshirishi kerak.
Biz bilan bog'lanish
So'rov yuborish










